絕緣阻力電阻試驗設(shè)備

產(chǎn)品簡介

可對離子遷移・絕緣電阻值進行高精度・高信賴性・高效率的評價。

從當(dāng)今的地球・市場環(huán)境來看，省能源・鉛/無鹵素・小型輕量・低價格・高信賴等觀點出發(fā)的，

新素材・新實裝方法的研究開發(fā)・評價方法的重估是必須的。

J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進行高信賴性評價試驗的，

新時代離子遷移實驗裝置 ECM-100系列。

簡介：離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流

電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的

現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING）

適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001

離子遷移、電遷移、在PCB中離子遷移的危害與對策

PCB離子遷移研究及其故障分析 /SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)

線路板表面絕緣電阻檢測/PCB表面絕緣電阻