銷售非接觸厚度電阻率測試儀
- 所在區(qū)域： 北京
- 價格范圍： 0
- 發(fā)布日期： 2014-09-18 02:33:47
- 有 效 期： 長期有效
- 供應數(shù)量： 20
- 北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
- 聯(lián) 系 人： 包經(jīng)理
- 電 話： 010-60290891
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- 地 址： 北京市大興區(qū)西紅門路26號明珠商務(wù)7A-306
產(chǎn)品簡介
RTM660C無接觸式硅片厚度電阻率測試系統(tǒng)
RTM660C采用高精度的厚度及電阻率探頭，配以強大的軟件控制，可以用多種方式進行無接觸式測量，使得測試過程變得十分高效。系統(tǒng)采用一體化設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊，安裝方便。使用者在操作平臺上轉(zhuǎn)動硅片，測試數(shù)據(jù)可即時顯示，并可對測試數(shù)據(jù)進行分析處理。高精度電容式厚度探頭和電渦流式電阻率探頭，保證測試結(jié)果精確且穩(wěn)定。RTM660C可廣泛使用于研究、生產(chǎn)及質(zhì)檢等場所，友好的人機交互界面，使用相當便捷。
技術(shù)參數(shù)
■ 硅片規(guī)格：
方片125x125mm、156x156mm
圓片3″、4″、5″、6″、8″
■ 測試功能
厚度：單點及多點厚度
TTV：總厚度偏差
體電阻率：單點及多點體電阻率
■ 測試指標
厚度范圍：150～1000μm
測量誤差：≤±1.0μm
重復性：≤±0.20μm
TTV范圍：0.00μm～200.00μm
測量誤差：≤±0.50μm
重復性：≤±0.20μm
體電阻率范圍：0.1Ω.cm~30.0Ω.cm
測量誤差：≤±3%
重復性：≤1.5%
■ 設(shè)備尺寸/重量：470mm(L)x420mm(W)x600mm(H)/20Kg
■ 測試環(huán)境要求：溫度范圍15～27℃
■ 濕度范圍：35%～85%
■ 電源要求：220VAC,50Hz
■ 控制器：高性能主機
RTM660C采用高精度的厚度及電阻率探頭，配以強大的軟件控制，可以用多種方式進行無接觸式測量，使得測試過程變得十分高效。系統(tǒng)采用一體化設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊，安裝方便。使用者在操作平臺上轉(zhuǎn)動硅片，測試數(shù)據(jù)可即時顯示，并可對測試數(shù)據(jù)進行分析處理。高精度電容式厚度探頭和電渦流式電阻率探頭，保證測試結(jié)果精確且穩(wěn)定。RTM660C可廣泛使用于研究、生產(chǎn)及質(zhì)檢等場所，友好的人機交互界面，使用相當便捷。
技術(shù)參數(shù)
■ 硅片規(guī)格：
方片125x125mm、156x156mm
圓片3″、4″、5″、6″、8″
■ 測試功能
厚度：單點及多點厚度
TTV：總厚度偏差
體電阻率：單點及多點體電阻率
■ 測試指標
厚度范圍：150～1000μm
測量誤差：≤±1.0μm
重復性：≤±0.20μm
TTV范圍：0.00μm～200.00μm
測量誤差：≤±0.50μm
重復性：≤±0.20μm
體電阻率范圍：0.1Ω.cm~30.0Ω.cm
測量誤差：≤±3%
重復性：≤1.5%
■ 設(shè)備尺寸/重量：470mm(L)x420mm(W)x600mm(H)/20Kg
■ 測試環(huán)境要求：溫度范圍15～27℃
■ 濕度范圍：35%～85%
■ 電源要求：220VAC,50Hz
■ 控制器：高性能主機
