原子力顯微鏡FastScan

掃描速度的全新詮釋，擁有最高的掃描分辨率，最優異的儀器檢測性能
    Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

    為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現了利用Dimension快速掃描系統，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
     高效率   

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節    和檢測器調節，智能進針，大大縮短了實驗時間。 
自動測量軟件和高速掃描系統完美結合，大幅提高了實驗數據  的可信度和可重復性。 
高分辨率      
Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。 
掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。