天瑞X熒光光譜儀EDX4500H

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。 性能特點 高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平 最新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好 SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 天瑞儀器專利產品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上 低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好 智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性 高信噪比的電子線路單元 針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度 多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制 內置高清晰攝像頭 液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然 技術參數(shù) 產品型號：EDX 4500H 產品名稱：X熒光光譜儀 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 測量時間：30秒-200秒 探測器能量分辨率為：145±5eV 管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA 測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體 輸入電壓：AC 110V/220V 環(huán)境溫度：15℃-30℃ 環(huán)境濕度：35%-70% 樣品腔體積：320mm×100mm 外形尺寸：660mm×510mm×350mm 重量：65Kg 標準配置 高效超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數(shù)字多道技術 信噪比增強器 SNE 光路增強系統(tǒng) 高信噪比電子線路單元 內置高清晰攝像頭 自動切換型準直器和濾光片 自動穩(wěn)譜裝置 三重安全保護模式 可靠的整體鋼架結構 90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏 真空泵 應用領域 合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）