太陽能級硅少子壽命測試儀 功能特點：本設備是按照國家標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計制造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶

母合金 半導體拉晶的重要摻雜元素 產品特點 進口12N電子極原生多晶硅，配摻高純度硼粉（7N）級。目前廣泛應用在拉單晶上的為硅硼負三合金。 母合金摻雜

硅料檢測分選儀 該儀器專門為硅料分選而設計，可以快速準確的測量PN型、重摻、電阻率。對碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料均可測量。系統同時配備三探

單晶型號測試儀 單晶型號測試儀是快速鑒別硅晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。 功能特點 儀器采用進口16

硅芯電阻測試儀 硅芯電阻率測試儀是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，

硅片電阻測試儀 硅片電阻測試儀是用來測量硅片、硅單晶、鍺單晶電阻率的測量儀器。它由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架、四探針頭及專業測量軟件組成。 功能特點

少子壽命測試儀 XH-120是一款經濟實用的硅晶片少子壽命測量儀器，控制裝置既適用于研究也適用于生產。采用準穩態光電導（QSSPC）測量方法測量，此方法是測量硅片，摻

電阻率厚度測試儀 產品型號：進口 功能特點 專為測量太陽能硅片電阻率及厚度所設計，操作簡單，一次測量，同時顯示電阻率及厚度值。利用電容及電感傳感

硼磷含量測試儀 產品型號：進口 功能特點 該測試儀可以準確的測出硅料中硼、磷等多達70多種雜質的含量。能夠進行定性及定量分析，能實現一次進

碳氧含量測試儀(延伸閱讀-硅晶體中碳氧含量的檢驗原理及方法) 產品型號：進口 此款硅料碳氧含量測試儀是我公司最新從國外引進的設備。它結合了當今最新的光學、電

RTM660C無接觸式硅片厚度電阻率測試系統 RTM660C采用高精度的厚度及電阻率探頭，配以強大的軟件控制，可以用多種方式進行無接觸式測量，使得測試過程變得十分高效。系

電阻率厚度測試儀 產品型號：進口 Thesystemconsistsofthemeasuringhead,anelectronicracklinkedbyonestandardcablewith25-pinD-connectoraPC.