顯微鏡顆粒度分析系統

顯微鏡顆粒度分析系統   
顯微鏡清潔度分析系統 
顯微鏡污染物分析系統                   
物盡其善 精益求精
普勒驗室認證產品
訂貨號：860310CN8601
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儀器介紹：
顯微鏡顆粒度分析系統是普勒新世紀實驗按照普洛帝全球分析儀器事業部的規劃，于2001年推向市場的成熟系統儀器；
觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數量、大小、平均長徑比以及長徑布等，為科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段；
該系統為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、數字CCD、圖像處理與分析、電腦、打印機等部分組成；
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；
專用數字將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；
R232接口數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統；
顆粒圖像分析及平臺對圖像進行處理與分析；
顯示器及打印機輸出分析結果；
直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；
避免激光法的產品缺陷，擴展檢測范圍；
現實NAS、ISO等國際標準方法的認可；
提供行業獨有的“OIL17服務星” 簽約式服務，365天無憂使用。
執行標準：
方法標準：ISO 4407、JJS B9930、GB/T 20082、GJB 380.5A、GJB 380.8A、QJ 2724.4、QC/T 29105.4、JG/T 70、JB/T 9591.3、JB/T 5365.2、ISO16232 、VDA19 、ISO4406等；
判定標準：GB/T14039、ISO4406、ISO11171、NAS1638、 MIL-P-28809、MILSTD-1246、DL/T432、GJB380、GJB420和DL/T1096等。
應用場合：
應用場合更加廣泛，航空、航天、航海、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車、制造等領域進行固體顆粒污染度檢測。 
儀器性能：
測試范圍: 1-500μm
統放大倍數：40～l000X倍
最大分辨率：0.1μm
顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數字(CCD)：300萬像素
標尺刻度：0.1μm
分析項目：粒度分布、長徑布、圓形度分布等
自動分割速度：< 1秒
分割成功率：> 93%
運行環境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
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