XH-AP150半自動探針臺技術
- 所在區域： 北京
- 價格范圍： 50000元
- 發布日期： 2014-10-22 02:32:13
- 有 效 期： 長期有效
- 供應數量： 1
- 北京羲和陽光科技發展有限公司
- 聯 系 人： 包經理
- 電 話： 010-60290891
- 移動電話： 18618315708
- 傳 真： 010-60290891
- 地 址： 北京市大興區西紅門路26號明珠商務7A-306
產品簡介
半自動探針臺與測試儀配接后，能自動完成對芯片的電參數測試。
技術性能：
1. 采用高性能計算機，Windows操作系統，動態顯示測試過程；
2. TTL專用接口，IEEE488接口；
3. MAP圖顯示、支持大量數據存儲；
4. 具有同步打點、延時打點、離線打點功能；
5. 具有編輯、矩陣、環形、圓形等多種自動測試方式；
6. 適合對光敏感器件的遮光測試。
技術指標：
性能名稱 技術指標
可測片徑 4″、5″、6″
工作臺 最大行程 180mm×260mm
定位精度 ≤±0.015mm
步進分辨率 0.001mm
承片臺 Z向行程 8mm
Z向定位精度 ≤±0.005mm
Z向分辨率 0.001mm
θ向調節范圍 ±10 º
θ向分辨率 0.001 º
觀察裝置 雙目體視顯微鏡，放大倍數7.5X～45X
遮光罩裝置（適合對光敏感器件的遮光測試） （選配）
上、下圓片方式 手動方式
外形尺寸（寬×深×高） 750mm×700mm×1500mm
環境要求：
1. 電源：AC 220V±22V 50Hz±1Hz，功率：＜0.8KW，真空：< -80 KPa
2. 使用環境：溫度：10ºC-30ºC 濕度：＜60%
設備外形：
技術性能：
1. 采用高性能計算機，Windows操作系統，動態顯示測試過程；
2. TTL專用接口，IEEE488接口；
3. MAP圖顯示、支持大量數據存儲；
4. 具有同步打點、延時打點、離線打點功能；
5. 具有編輯、矩陣、環形、圓形等多種自動測試方式；
6. 適合對光敏感器件的遮光測試。
技術指標：
性能名稱 技術指標
可測片徑 4″、5″、6″
工作臺 最大行程 180mm×260mm
定位精度 ≤±0.015mm
步進分辨率 0.001mm
承片臺 Z向行程 8mm
Z向定位精度 ≤±0.005mm
Z向分辨率 0.001mm
θ向調節范圍 ±10 º
θ向分辨率 0.001 º
觀察裝置 雙目體視顯微鏡，放大倍數7.5X～45X
遮光罩裝置（適合對光敏感器件的遮光測試） （選配）
上、下圓片方式 手動方式
外形尺寸（寬×深×高） 750mm×700mm×1500mm
環境要求：
1. 電源：AC 220V±22V 50Hz±1Hz，功率：＜0.8KW，真空：< -80 KPa
2. 使用環境：溫度：10ºC-30ºC 濕度：＜60%
設備外形：
