顆粒碰撞噪聲檢測儀4511M-R
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產品簡介
顆粒碰撞噪聲檢測儀： 美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領域的繼電器等電子元器件封裝內的多余物松散顆粒。 工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impa Noise Deteion P.I.N.D.）是一種對多余物檢驗的有效手段。其原理是利用振動臺產生一系列指定的機械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產品中的顆粒（即多余物）松 動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統內產生位移�；顒拥亩嘤辔镌诋a品中發生位移的過程，是多余物相對產品殼體的滑動和撞擊的一個隨機組合過程。在這個過程中，將產生應力彈性波和聲波。這兩種波在產品殼體中傳播并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機采集、處理并顯示。檢測人員可以依據顯示的信號波形判定出信號性質，以此得出檢測結論。
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