IC集成電路老化測試座
該產(chǎn)品用于航空航天、軍工、科研單位以及集成電路生產(chǎn)企業(yè),可配進(jìn)口老化臺、老化板做器件及高、低溫測試、老化篩選作連接之用。
產(chǎn)品型號及規(guī)格;
4M-68J
主要技術(shù)指標(biāo);
間距;1.27mm 環(huán)境溫度;-55℃—+155℃ 接觸電阻;≤0.01歐 工作電壓;DC500V
單腳插入力;≤0.2Kg 彈片金層厚度;1um鎳2um金 封裝形式:CPGA